I類瓷的溫度系數(shù)（T.C.)用ppm/C表示，而II類瓷用％AC。測(cè)量溫度系數(shù)的方法是 將片式電容器樣品置于溫度可控的溫度實(shí)驗(yàn)室或“T.C.”實(shí)驗(yàn)室中，精確地讀取不同溫度（通 常為-55C、25C、125C)下的電容量。顯然，精密的夾具和測(cè)試儀器就變得非常重要了， 特別是測(cè)量小電容量時(shí)，其ppm/C數(shù)值非常小，容量較基準(zhǔn)值的變化往往遠(yuǎn)小于1皮法。 由于存在去老化性，因此在測(cè)高K的II類介質(zhì)時(shí)就必須注意。如果在加熱過程中對(duì)去老化的 樣品進(jìn)行測(cè)量，其T.C.結(jié)果肯定是錯(cuò)誤的；所以T.C.測(cè)量必須在對(duì)電容器去老化后至少一個(gè) 小時(shí)才能進(jìn)行。

　　采用下面的表達(dá)式就可以計(jì)算出任何給定的溫度范圍內(nèi)I類介質(zhì)的溫度系數(shù)，單位為 ppm/C:

　　T.C.(ppm/℃)=[(C2 - Ci) / Ci(T2 - Ti)]106

　　這里：Ci=Ti下的電容量 C2=T2下的電容量 且 T2> Ti 舉例：某一樣品的電容量測(cè)量值如下：

　　-55℃下1997 pF，25℃下2000 pF，125℃下2004 pF 則-55℃到25℃范圍內(nèi)的T.C.斜率為：

　　T.C.=[ (2000-1997) 106] / 1997[25-(-55)]=18.7 ppm/℃ 25℃到125℃范圍內(nèi)的TC.斜率為：

　　T.C.=[ (2004-2000) 106] / 2000(125-25)=20.0 ppm/℃

　　II類介質(zhì)的溫度系數(shù)是以在室溫基準(zhǔn)值上變化的百分?jǐn)?shù)來表示的，其變化量較線性介質(zhì)大了好幾個(gè)數(shù)量級(jí)。

　　B.貼片電容介質(zhì)的分類

　　I類介質(zhì)由于其采用非鐵電配方，以TiO2為主要成分（介電常數(shù)小于150)， 因此具有穩(wěn)定的性能。通過添加少量其他（鐵電體）氧化物，如CaTiOs或SrTi〇3，構(gòu)成 "擴(kuò)展型"溫度補(bǔ)償陶瓷則可表現(xiàn)出近似線性的溫度系數(shù)，介電常數(shù)增加至500。兩種類型 的介質(zhì)都適用于電路中對(duì)穩(wěn)定性要求很高的電容器，即介電常數(shù)無老化或老化可忽略不計(jì)， 低損耗（DF<0.001，或?qū)τ跀U(kuò)展型T.C.介質(zhì)DF<0.002)，容量或介質(zhì)損耗隨電壓或頻率的變 化為零或可忽略不計(jì)以及線性溫度特性不超出規(guī)定的公差。